Назначение и область применения

дифрактометр Empyrean

• Идентификация фаз, в том числе в режиме "на просвет", количественный фазовый анализ, определение аморфной компоненты.
• Определение и уточнение параметров элементарной ячейки.
• Идентификация фаз (по слоям), рефлектометрия (определение толщины и плотности слоев).
• Анализ эпитаксиальных структур.
• Картирование в обратном пространстве.
• Определение напряжений в слоях, анализ текстуры.
• Идентификация фаз в наноструктурах, измерение размеров наночастиц.
• Малоугловое рассеяние.
• Микродифракция.
• Определение размеров кристаллитов и микронапряжений.
• Анализ текстур и напряжений.
• Высоко и низкотемпературные исследования.
• Изучение процессов кристаллизации и фазовых переходов при изменении температуры.
• Получение трехмерной картины исследуемого объекта (компьютерная томография).
  

Система предварительно откалиброванных модулей PreFIX позволяет быстро производить замену оптических и других модулей пользователем без последующей юстировки и помощи технического специалиста фирмы-производителя.

Впервые в качестве детектора применён твердотельный трехмерный детектор PIXcel^3D.  Это уникальная совместная разработка PANalytical, ЦЕРН и других ведущих Европейских научно-исследовательских институтов в области ядерной физики (коллаборация Medipix2). Твердотельный трехмерный детектор PIXcel^3D, состоящий из 65 000 чувствительных элементов (пикселей), размер каждого из которых составляет 55 x 55 мкм, может использоваться:

Новые, уникальные платформы для образцов:

• компактная люлька с возможностью перемещения по 5 осям;
• люлька с возможностью перемещения по 3 осям (для образцов весом до 2-х кг);
• специальная вращающаяся платформа пробы для компьютерной томографии;
• платформа с автоматической компенсацией изменения высоты (управляется компьютером).

Защитный корпус дифрактометра отвечает самым жестким мировым требованиям радиационной безопасности.

Программное обеспечение. Набор пакетов программного обеспечения X'Pert SOFTWARE, обеспечивает выполнение всех возможных видов анализа и широчайший спектр исследований:

• X'Pert Data Collector - программный модуль для управления дифрактометром, задания параметров измерений, сбора данных;
• X'Pert Industry (включая X'Pert Data Collector) - пакет программ для промышленных производств. Оснащен макроязыком для создания алгоритмов, обеспечивающих рутинные измерения и обработку данных;
• X'Pert Quantify- обеспечивает автоматизированный количественный фазовый анализ, включая измерение, обработку и вывод результатов, с использованием всех принятых в настоящее время аналитических моделей;
• X'Pert HighScore - программа для идентификации фаз в многофазных смесях с использованием современных алгоритмов;
• X'Pert HighScore Plus - пакет содержит дополнительные программы кристаллографического и фазового анализа с использованием метода Ритвельда;
• X'Pert Stress - программа для анализа остаточных микро-макро напряжений;
• X'Pert Texture - программа позволяет анализировать, рассчитывать и визуализировать предпочтительную ориентацию кристаллитов во всех видах поликристаллических материалов, включая специальные 3D режимы графических вариантов отображения полюсных фигур и ориентации функции распределения;
• X'Pert Epitaxy - программа для анализа полупроводников, эпитаксиальных пленок;
• X'Pert Reflectivity - программа для анализа толщины пленок (кристаллических и аморфных), оценка качества поверхности.

Основные технические характеристики